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物理光学仪器
熔点仪
SGW X-4A 显微熔点仪

产品简介
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
X-4A 显微熔点仪特点:
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
X-4A 显微熔点仪主要技术参数:
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)
温度显示zui小值:0.1℃
熔点观察方式单目显微镜
光学放大倍数 40×